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以低缺陷密度的AlN /藍寶石模板有效釋放AlN厚膜中的拉伸應力

稿件來源:今日半導體 責任編輯:ICAC 發布時間:2020-08-04

  中國研究人員展示了如何通過高溫金屬有機化學氣相沉積(MOCVD)有效釋放氮化鋁(AlN)厚膜中的拉應力,從而允許低缺陷密度AlN /藍寶石模板的生長。

  研究人員提出生長厚的AlN膜以減少AlN /藍寶石模板中的TDD,這可使位錯爬長距離以互相破壞。該技術的關鍵是通過引入高密度的納米空隙來有效釋放AlN厚膜中的拉應力。

  AlN膜的生長始于在NAURA iTops A230 AlN濺射系統的2英寸藍寶石襯底上濺射的20nm厚AlN緩沖液。隨后,通過使用Aixtron緊密耦合噴嘴(CCS)高溫(HT)金屬有機化學氣相沉積(MOCVD)系統在濺射的AlN /藍寶石上產生厚的AlN膜。后續結構由300nm厚的HT AlN-1層(1230°C),350nm厚的中間溫度(MT)AlN層(930°C)和4950nm厚的HT AlN-2層(1235°C)組成。 AlN膜的總厚度為約5.6μm。此外,還生長了沒有MT中間層的5.6μm厚的AlN膜用于比較。

  實驗發現具有MT夾層的AlN厚膜的曲率增加率比沒有MT的AlN厚膜的曲率增加率小得多。中間層顯示出張應力要弱得多,進一步證明了,MT AlN中間層的引入可以有效緩解拉應力。橫截面掃描透射電子顯微鏡(STEM)圖像分析,MT中間層的引入誘導了高密度(1.7x1010cm-2)納米孔的產生,這些納米空隙通過減小接觸面積而有效地破壞了MT中間層和隨后的外延層之間的相干性,從而有助于顯著減小拉伸應力。高分辨率X射線衍射(HR-XRD)測量表明,帶有MT夾層的AlN膜的結晶質量也得到了顯著改善。

  研究人員認為,這項技術為實現高性能DUV LED和其他基于AlN的光電電子設備鋪平了道路。

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