5月9日，美國馬里蘭大學Michael Pecht教授來微電子所做學術交流，并作了題為《電子產品考核的進階方法》的報告。微電子所科研人員、研究生共50余人參加了交流活動。 

　　Michael Pecht在報告中簡要介紹了美國馬里蘭大學及計算機輔助產品壽命周期工程中心的基本情況，分享了其課題組在微電子可靠性考核與預測方面的最新研究進展。他回顧了當前普遍應用的電子產品考核方法，討論了現有方法在有效性、時效性等方面的問題與不足，提出了一種新型的融合實驗數據與失效物理為基礎的可靠性預測方法。該方法根據電子產品隨著時間從正常工作狀態開始退化或發生偏移的過程來評估和預測產品的未來可靠度。會后，Michael Pecht與微電子所相關科研人員進行了座談，解答了微電子可靠性方面的疑問，并展開了充分討論。 

　　Michael Pecht現任美國馬里蘭大學計算機輔助產品壽命周期工程中心主任，馬里蘭大學機械工程系、應用數學系的首席教授。2008年獲產品可靠性方面的最高榮譽——IEEE可靠性協會的終身成就獎。 

交流會現場