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當前位置 首頁 人才隊伍
  • 姓名: 孫鍇
  • 性別: 女
  • 職稱: 副研究員
  • 職務: 
  • 學歷: 博士
  • 電話: 18629404731
  • 傳真: 
  • 電子郵件: sunkai1@ime.ac.cn
  • 所屬部門: 高頻高壓中心
  • 通訊地址: 北京市朝陽區北土城西路3號

    簡  歷:

  • 教育背景

    20089-20135月,  西安交通大學電信學院,控制科學與工程,博士學位 

    20039-20064月,  西安交通大學學院經金學院,應用經濟學,碩士學位 

    19969-20005月,  武漢大學物理系,應用物理學,本科,學士學位 

    工作簡歷 

    20189-至今 中國科學研微電子研究所, 副研究員 

    20078-20189月,西安建筑科技大學,機電工程學院,助教,講師,副教授 

    20122-20132月,美國俄亥俄州立大學,電子信息工程學院,訪問學者 

    200612-20076月,賽貝斯軟件中國有限公司,軟件測試工程師 

    20065-200611月,深圳華為技術有限公司,   項目管理工程師 

    20028-20037月, 北京藍色之星科技有限公司,軟件工程師 

    20023-20026月, 清華同方光盤股份有限公司,軟件工程師 

    20007-20021月, 西安原相科技股份有限公司,軟件工程師 

    社會任職:

  • 四川電子學會可靠性分會專委委員 

    研究方向:

  • 復雜產品可靠性分析,智能制造,人工智能與大數據

    承擔科研項目情況:

  • 主持國家研究項目: 

    [1] 國家自然科學基金青年項目:基于系統圖譜的流程工業生產系統運行健康狀態分析方法研究,批準號:51705393,起止年月:2018/01-2020/12,經費:21萬元 

    [2] 基礎研究項目,子課題負責人,已立項 

    參與國家科研項目 

    2017年度國家重點研發計劃重大科學儀器開發重點專項”的子課題“關鍵電路集成芯片驗證”(項目編號:2017YF0106602 

    代表論著:

  • 發表論文: 

    [1] Sun Kai, Wu Jin, Semiconductor chip’s quality analysis based on its high dimensional test data[J],Annals of Operations Research, 2019, S.I. : RELIABILITY MODELING WITH APPLICATIONS BASED ON BIG DATA 

    [2] Gao XuGao Jianmin, Sun Kai etc. Online Fault Diagnosis of Modern Process industry System based on Color-spectrum, Journal of  Shanghai  Jiaotong  University (Science) 2016,215:621-628 

    [3] Sun Kai, Gao Jianmin, Gao Zhiyong, Jiang Hongquan, Gao Xu, Plant-wide quantitative assessment of a process industry systems operating state based on color-spectrum[J], Mechanical Systems and Signal Processing. 201560-61:644-655  

    [4]孫鍇,高建民,高智勇,基于數據驅動的系統彩色圖譜分析現代工業系統健康狀態[J]. 機械工程學報,201248卷第18期:186-191(機械行業權威期刊,EI:20124415622518 

    出版專著 

    [1] 基于系統圖譜的復雜機電系統狀態分析方法,西北工業大學出版社,20168月,ISBN978-7-5612-5079-2 

    出版教材 

    [1] 電氣工程中的電磁場,西北工業大學出版社,20168月,ISBN978-7-5612-5078-5

    專利申請:

  • 獲得國家發明專利 

    [1]高建民,孫鍇,高智勇,陳富民,姜洪權,基于二維彩色數字圖譜的復雜機電系統狀態評估方法[P].中國.專利號: ZL201110146488.5 

    [2] 孫鍇,基于故障數據灰度圖譜的半導體芯片批量測試方法[P],專利號:201611199475.3 

    獲得軟件著作權 

    [1] 孫鍇,品安半導體測試數據分析軟件V2.0, 登記號: 2017SR373272 

    申請國家發明專利 

    [1]  孫鍇,非線性海量高維序列數據分類特性可視化及定量分析方法[P],申請號:20171047831.0

    獲獎及榮譽: