教育背景
1997.09-2001.06 長春理工大學(xué),光學(xué)技術(shù)與光電儀器,本科?
2004.09-2006.06 長春理工大學(xué),光學(xué)工程,碩士研究生?
工作背景
2001.07-2002.10 新福克斯(深圳)光電通訊有限公司,工程師?
2006.07-2012.05 北京中科科儀股份有限公司,工程師?
2012.05-2017.03 中科院微電子研究所,工程師?
2019.01-至今 ??中科院微電子研究所,高級(jí)工程師?
[1]定容法正壓漏孔校準(zhǔn)裝置.真空科學(xué)與技術(shù)學(xué)報(bào). 2014.34(6)?
代表性專利:?
[1]一種氣體分析裝置及方法,發(fā)明,專利號(hào): 201310430575.2?
[2]一種集光系統(tǒng)防污染保護(hù)裝置,發(fā)明,專利號(hào): 201210505346.8 ?
[3]一種用于EUV真空環(huán)境中的電子學(xué)裝置,發(fā)明,專利號(hào): 201310172932.X?
[4]一種光譜橢偏測(cè)量裝置及方法,發(fā)明,專利號(hào): 201310436198.3?
[5]一種分子泵軸承組件,發(fā)明,專利號(hào):200910089537.9?
[6]分子泵供油錐及供油系統(tǒng),發(fā)明,專利號(hào):201020608645.0?
[7] 用于EUV真空環(huán)境中的光電轉(zhuǎn)換電子學(xué)裝置及光刻機(jī),發(fā)明,專利號(hào):201911212670.9?
[8] 用于EUV真空環(huán)境中的光傳輸裝置及光刻機(jī),發(fā)明,專利號(hào):201911212715.2s?
[9]反射式光學(xué)系統(tǒng)及其裝調(diào)測(cè)試方法,發(fā)明,專利號(hào):201911212108.6
人才隊(duì)伍