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作者信息:硅器件中心 孫澎
圖片描述:本作品為拍晶圓橫截面所形成的圖片,VDMOS器件性能好壞,很大程度上取決于它的微觀結構,通過掃描電子顯微鏡看到其橫斷面微觀結構,包括垂直幾何結構、雙擴散工藝、多晶硅柵結構、單胞由結構等。
成像設備:臺式電子掃描顯微鏡
圖像處理軟件:JCM-6000
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