作者信息：設備中心  岳嵩 

圖片描述：本作品從左至右展示的是手性光學超表面與圓偏振光相互作用的示意圖，以及制備出的納米結構陣列的掃描電鏡照片。從SEM照片可以看出，所制備出的納米結構陣列擁有很好的均勻性，每四個納米結構構成一個單元，單元又非常規整地排列成周期性陣列，如同2019年建國七十周年大慶時的閱兵隊伍一般，展示了良好的紀律性和戰斗力。同時也讓人聯想到在今年抗擊疫情的關鍵時期，部隊和地方的醫務人員奮勇爭先、英勇逆行，集中體現了全國上下“萬眾一心、眾志成城”抗擊疫情的精神。 

實驗方法：上述手性超表面利用精確對準的電子束曝光套刻技術制備，套刻橫向定位精度優于20 nm。 

取樣儀器名稱型號：Raith E-line，Zeiss Merlin 

圖片處理軟件名稱：Blender, CorelDraw, CorelPhoto-Paint